通常使用示蹤法,即向一穩(wěn)定流動的系統(tǒng)中輸入示蹤劑,在出口處檢測流出物料中示蹤劑含量的變化,從而定出物料的停留時間分布。所用示蹤劑應不起化學變化,不會被器壁或器內填充物所吸附并易于檢測,如電解質、染料等。輸入示蹤劑要不影響裝置內原來的流動狀況。示蹤剤的輸入方式有脈沖式:
脈沖法,在t=0瞬間,向流量為v的流入物料中脈沖地注入示蹤劑A(其量為M),同時記錄流出物料中A的摩爾分子濃度CA隨時間t的變化,繪出CA-t曲線,曲線所圍的面積為:
若以C0表示M/v,并按E(t)定義:
E(t)dt=vCAdt/M,
則 E(t)=CA/C0。
返混是流動系統(tǒng)的內在流動特征,一般不易直接測定.返混的研究通常是先簡化,然后假設流動模式(流動宏觀形態(tài)的簡化物理模式),以流動模型表示返混與物料停留時間分布的定量關系,并根據物料的停留時間分布來檢驗模型和估計模型參數.一定的返混流動模式會表現出確定的停留時間分布,但同樣的停留時間分布卻可能由不同的返混流動模式造成.所以從停留時間分布不能確切推測流動模式. 反應器中的流動,通常很復雜,常可簡化為若干種基本的流動模式.其中理想流動模式有二:一是返混量為零的流動,即平推流(或活塞流,或理想排擠);另一是返混量為無窮大的流動,即全混流(或理想混合).非理想流動模式的返混量介于零與無窮大之間.[1] 返混使系統(tǒng)中的溫度分布或濃度分布趨于平坦.因此,凡是要求較大溫度差或濃度差的場合,返混是不利因素.對各種反應來說,返混的利弊各不相同:①在正級數反應中,返混會降低反應器中反應物的濃度,必然會降低表觀的反應速率.例如對于一級反應,在要求出口轉化率為90%時,平推流反應器中的表觀速率約為全混流反應器的2.3倍.②在有串聯副反應的反應中,返混降低反應物的濃度、同時提高產物濃度,必然降低表觀的選擇率.③在有平行副反應的反應中,如果主反應級數高于副反應的級數,則返混使表觀選擇率下降.④對負級數反應、自催化反應以及其他需要均勻溫度或濃度的反應(如可以利用反應放熱來加熱反應原料的反應),返混是有利因素. 凡是有降液管的塔板上,液體物料橫過塔板與上升氣體呈T字形錯流狀態(tài).物料中易揮發(fā)組分的濃度將沿著流動的方向逐漸下降.但如果因液體流動情況、流道長度、以及停留時間、塔板的水平度和水力梯度等原因,會使上升的氣體在工作面上使液體形成渦流狀態(tài),即濃度高低不一的液體攪混在一起,從而破壞了已經形成的液體沿正常流動方向的濃度變化,這種現象就是返混現象,在塔內時有發(fā)生,導致分離效果降低.。
本測定方法有哪些需要改進的地方通常使用示蹤法,即向一穩(wěn)定流動的系統(tǒng)中輸入示蹤劑,在出口處檢測流出物料中示蹤劑含量的變化,從而定出物料的停留時間分布。
所用示蹤劑應不起化學變化,不會被器壁或器內填充物所吸附并易于檢測,如電解質、染料等。輸入示蹤劑要不影響裝置內原來的流動狀況。
示蹤剤的輸入方式有脈沖式:脈沖法,在t=0瞬間,向流量為v的流入物料中脈沖地注入示蹤劑A(其量為M),同時記錄流出物料中A的摩爾分子濃度CA隨時間t的變化,繪出CA-t曲線,曲線所圍的面積為:若以C0表示M/v,并按E(t)定義:E(t)dt=vCAdt/M,則 E(t)=CA/C0。
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