軟件缺陷可以分類方法(軟件缺陷的分類標(biāo)準(zhǔn))
1.軟件缺陷的分類標(biāo)準(zhǔn)
1.缺陷標(biāo)識(shí)（Identifier）： 缺陷標(biāo)識(shí)是標(biāo)記某個(gè)缺陷的一組符號(hào)。每個(gè)缺陷必須有一個(gè)唯一的標(biāo)識(shí)。
2.缺陷類型 （Type）： 缺陷類型是根據(jù)缺陷的自然屬性劃分的缺陷種類。
3.缺陷嚴(yán)重程度 （Severity） ：缺陷嚴(yán)重程度是指因缺陷引起的故障對(duì)軟件產(chǎn)品的影響程度。
4.缺陷優(yōu)先級(jí)（Priority）： 缺陷的優(yōu)先級(jí)指缺陷必須被修復(fù)的緊急程度。
5.缺陷狀態(tài)（Status） ：缺陷狀態(tài)指缺陷通過(guò)一個(gè)跟蹤修復(fù)過(guò)程的進(jìn)展情況。
6.缺陷起源（Origin） ：缺陷來(lái)源指缺陷引起的故障或事件第一次被檢測(cè)到的階段。
7.缺陷來(lái)源（Source）： 缺陷來(lái)源指引起缺陷的起因。
8.缺陷根源（Root Cause）： 缺陷根源指發(fā)生錯(cuò)誤的根本因素。 F- Function ：影響了重要的特性、用戶界面、產(chǎn)品接口、硬件結(jié)構(gòu)接口和全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。并且設(shè)計(jì)文檔需要正式的變更。如邏輯，指針，循環(huán)，遞歸，功能等缺陷。
A- Assignment： 需要修改少量代碼，如初始化或控制塊。如聲明、重復(fù)命名，范圍、限定等缺陷。
I- Interface： 與其他組件、模塊或設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序、調(diào)用參數(shù)、控制塊或參數(shù)列表相互影響的缺陷。
C- Checking： 提示的錯(cuò)誤信息，不適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)驗(yàn)證等缺陷。
B Build/package/merge ：由于配置庫(kù)、變更管理或版本控制引起的錯(cuò)誤。
D- Documentation： 影響發(fā)布和維護(hù)，包括注釋。
G- Algorithm ：算法錯(cuò)誤。
U-User Interface：人機(jī)交互特性：屏幕格式，確認(rèn)用戶輸入，功能有效性，頁(yè)面排版等方面的缺陷。
P-Performance：不滿足系統(tǒng)可測(cè)量的屬性值，如：執(zhí)行時(shí)間，事務(wù)處理速率等。
N-Norms：不符合各種標(biāo)準(zhǔn)的要求，如編碼標(biāo)準(zhǔn)、設(shè)計(jì)符號(hào)等。 軟件測(cè)試錯(cuò)誤嚴(yán)重程度
1.Critical：不能執(zhí)行正常工作功能或重要功能。或者危及人身安全。
2.Major：嚴(yán)重地影響系統(tǒng)要求或基本功能的實(shí)現(xiàn)，且沒(méi)有辦法更正。（重新安裝或重新啟動(dòng)該軟件不屬于更正辦法）
3.Minor：嚴(yán)重地影響系統(tǒng)要求或基本功能的實(shí)現(xiàn)，但存在合理的更正辦法。（重新安裝或重新啟動(dòng)該軟件不屬于更正辦法）
4.Cosmetic：使操作者不方便或遇到麻煩，但它不影響執(zhí)行工作功能或重要功能。
5.Other：其它錯(cuò)誤。
同行評(píng)審錯(cuò)誤嚴(yán)重程度
1.Major：主要的，較大的缺陷
2.Minor：次要的，小的缺陷 1.Resolve Immediately：缺陷必須被立即解決。
2.Normal Queue：缺陷需要正常排隊(duì)等待修復(fù)或列入軟件發(fā)布清單。
3.Not Urgent：缺陷可以在方便時(shí)被糾正。 1.Submitted： 已提交的缺陷
2.Open ：確認(rèn)“提交的缺陷”，等待處理
3.Rejected： 拒絕“提交的缺陷”，不需要修復(fù)或不是缺陷
4.Resolved ：缺陷被修復(fù)
5.Closed ：確認(rèn)被修復(fù)的缺陷，將其關(guān)閉 1.Requirement：在需求階段發(fā)現(xiàn)的缺陷
2.Architecture：在構(gòu)架階段發(fā)現(xiàn)的缺陷
3.Design：在設(shè)計(jì)階段發(fā)現(xiàn)的缺陷
4.Code：在編碼階段發(fā)現(xiàn)的缺陷
5.Test：在測(cè)試階段發(fā)現(xiàn)的缺陷 1.Requirement： 由于需求的問(wèn)題引起的缺陷
2.Architecture： 由于構(gòu)架的問(wèn)題引起的缺陷
3.Design： 由于設(shè)計(jì)的問(wèn)題引起的缺陷
4.Code： 由于編碼的問(wèn)題引起的缺陷
5.Test： 由于測(cè)試的問(wèn)題引起的缺陷
6.Integration： 由于集成的問(wèn)題引起的缺陷
2.軟件缺陷包括哪些內(nèi)容
一般我們都認(rèn)為測(cè)出一個(gè)問(wèn)題就是一個(gè)bug，其實(shí)這是不對(duì)的，假設(shè)測(cè)試10個(gè)問(wèn)題就10個(gè)bug，而修改一出就全解決了，程序員肯定認(rèn)為冤枉自己。
所有軟件是文檔，代碼等組成的，最初的錯(cuò)誤是來(lái)自于這些軟件錯(cuò)誤（software error），如代碼中加法寫(xiě)成減法。軟件錯(cuò)誤導(dǎo)致軟件缺陷（software defect），如設(shè)計(jì)缺陷，代碼缺陷等，可用靜態(tài)測(cè)試，如走查，靜態(tài)檢查，測(cè)試床（軍事軟件用的技術(shù)）等，軟件的缺陷導(dǎo)致一個(gè)或多個(gè)軟件故障 （software fault），故障有內(nèi)部故障，外部故障，也就是我們所說(shuō)的bug，軟件故障導(dǎo)致了軟件在功能操作等方面的失效（software failure）。
我們平時(shí)測(cè)的bug實(shí)際上是軟件故障于失效的體現(xiàn)。一旦軟件錯(cuò)誤得到修改，相應(yīng)的故障與失效也就解除了。這樣分有助于我們定位問(wèn)題，找到問(wèn)題。
3.缺陷分析方法具體有哪幾種
1、ODC缺陷分析：由IBM 的waston中心推出。
Phontol.com將一個(gè)缺陷在生命周期的各環(huán)節(jié)的屬性組織起來(lái)，從單維度、多維度來(lái)對(duì)缺陷進(jìn)行分析，從不同角度得到各類缺陷的缺陷密度和缺陷比率，從而積累得到各類缺陷的基線值，用于評(píng)估測(cè)試活動(dòng)、指導(dǎo)測(cè)試改進(jìn)和整個(gè)研發(fā)流程的改進(jìn)；同時(shí)根據(jù)各階段缺陷分布得到缺陷去除過(guò)程特征模型，用于對(duì)測(cè)試活動(dòng)進(jìn)行評(píng)估和預(yù)測(cè)。Phontol.com上面回答中涉及到的缺陷分布、缺陷趨勢(shì)等都屬于這個(gè)方法中的一個(gè)角度而已。
2、Gompertz分析：根據(jù)測(cè)試的累積投入時(shí)間和累積缺陷增長(zhǎng)情況，擬合得到符合自己過(guò)程能力的缺陷增長(zhǎng)Gompertz曲線，用來(lái)評(píng)估軟件測(cè)試的充分性、預(yù)測(cè)軟件極限缺陷數(shù)和退出測(cè)試所需時(shí)間、作為測(cè)試退出的判斷依據(jù)、指導(dǎo)測(cè)試計(jì)劃和策略的調(diào)整； 3、Rayleigh分析：通過(guò)生命周期各階段缺陷發(fā)現(xiàn)情況得到缺陷Rayleigh曲線，用于評(píng)估軟件質(zhì)量、預(yù)測(cè)軟件現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量； 4、四象限分析：根據(jù)軟件內(nèi)部各模塊、子系統(tǒng)、特性測(cè)試所累積時(shí)間和缺陷去除情況，和累積時(shí)間和缺陷去除情況的基線進(jìn)行比較，得到各個(gè)模塊、子系統(tǒng)、特性測(cè)試分別所位于的區(qū)間，從而判斷哪些部分測(cè)試可以退出、哪些測(cè)試還需加強(qiáng)，用于指導(dǎo)測(cè)試計(jì)劃和策略的調(diào)整； 5、根本原因分析：利用魚(yú)骨圖、柏拉圖等分析缺陷產(chǎn)生的根本原因，根據(jù)這些根本原因采取措施，改進(jìn)開(kāi)發(fā)和測(cè)試過(guò)程； 6、缺陷注入分析：對(duì)被測(cè)軟件注入一些缺陷，通過(guò)已有用例進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)這些刻意注入缺陷的發(fā)現(xiàn)情況，判斷測(cè)試的有效性、充分性，預(yù)測(cè)軟件殘留缺陷數(shù)。 7、DRE/DRM分析：通過(guò)已有項(xiàng)目歷史數(shù)據(jù)，得到軟件生命周期各階段缺陷注入和排除的模型，用于設(shè)定各階段質(zhì)量目標(biāo)，評(píng)估測(cè)試活動(dòng)。
4.軟件缺陷的五種特征
簡(jiǎn)單說(shuō)下軟件缺陷的最明顯的特征吧知
集結(jié)（二八定理）
缺陷往往喜歡扎堆，一個(gè)模塊已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的缺陷比別的模塊多，
通常不是代表這個(gè)模塊已經(jīng)把缺陷暴露完了，而是意味著這
個(gè)模塊還存在有同樣多的缺陷尚未被道發(fā)現(xiàn)。這就是著名的二
八定理：80%的缺陷出現(xiàn)在 20%的模塊。
缺陷抗藥性
測(cè)試進(jìn)行得越多，新缺陷就越難被發(fā)現(xiàn)
1. 因?yàn)橹耙恢笔褂猛瑯拥臏y(cè)試思內(nèi)路，同樣的一套測(cè)試用
例，沒(méi)有新的突破。
2. 某些缺陷天然地只有在很特殊或者很極端的情況下才會(huì)
被觸發(fā)
并非所有缺陷都要修改
p有一些原因，使得有容些缺陷我們不修復(fù)
1. 修復(fù)的風(fēng)險(xiǎn)太大
2. 沒(méi)有足夠的時(shí)間
3. 下一版本修復(fù)
p 所有未修復(fù)的bug都處于“掛起”狀態(tài)
5.軟件缺陷包括哪些內(nèi)容
一般我們都認(rèn)為測(cè)出一個(gè)問(wèn)題就是一個(gè)bug，其實(shí)這是不對(duì)的，假設(shè)測(cè)試10個(gè)問(wèn)題就10個(gè)bug，而修改一出就全解決了，程序員肯定認(rèn)為冤枉自己。
所有軟件是文檔，代碼等組成的，最初的錯(cuò)誤是來(lái)自于這些軟件錯(cuò)誤（software error），如代碼中加法寫(xiě)成減法。軟件錯(cuò)誤導(dǎo)致軟件缺陷（software defect），如設(shè)計(jì)缺陷，代碼缺陷等，可用靜態(tài)測(cè)試，如走查，靜態(tài)檢查，測(cè)試床（軍事軟件用的技術(shù)）等，軟件的缺陷導(dǎo)致一個(gè)或多個(gè)軟件故障 （software fault），故障有內(nèi)部故障，外部故障，也就是我們所說(shuō)的bug，軟件故障導(dǎo)致了軟件在功能操作等方面的失效（software failure）。
我們平時(shí)測(cè)的bug實(shí)際上是軟件故障于失效的體現(xiàn)。一旦軟件錯(cuò)誤得到修改，相應(yīng)的故障與失效也就解除了。
這樣分有助于我們定位問(wèn)題，找到問(wèn)題。
